Miller, D. M. (1987). Developments in integrated circuit testing. Academic Press.
Citace podle Chicago (17th ed.)Miller, D. M. Developments in Integrated Circuit Testing. London ; San Diego: Academic Press, 1987.
Citace podle MLA (8th ed.)Miller, D. M. Developments in Integrated Circuit Testing. Academic Press, 1987.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..