Ultrafast lasers probe phenomena in bulk and microstructure semiconductors : 25-26 March, 1987, Bay Point, Florida /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (U.S.), Metallurgical Society (U.S.)
Weitere Verfasser: Alfano, R. R.
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. : SPIE, c1987.
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; v. 793
Schlagworte:
Beschreibung
Beschreibung:vi, 194 p. : ill. ; 28 cm.
Bibliographie:Includes bibliographical references and index.
ISBN:0892528281