Characterization of semiconductor materials
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
New York,
McGraw-Hill
[1970]
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| Colección: | Texas instruments electronics series
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| Materias: |
| Descripción Física: | xvi, 351 p. illus. 26 cm. |
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| Bibliografía: | Includes bibliographical references. |