Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices /

Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون مشاركون: Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (U.S.), Metallurgical Society (U.S.)
مؤلفون آخرون: Glembocki, O. J., Pollak, Fred H., Song, J. J.
التنسيق: كتاب
اللغة:English
منشور في: Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering, c1987.
سلاسل:Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; v. 794
الموضوعات:
Thin film devices > Congresses.
Thin films > Optical properties > Congresses.

CARM 1 Store

تفاصيل المقتنيات من CARM 1 Store
رقم الطلب: A3:AB09C3 D01846
النسخة 1 متاح  أحجز النسخة

مواد مشابهة