Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices /
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| Autores corporativos: | , |
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| Outros Autores: | , , |
| Formato: | Livro |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
Bellingham, Wash., USA :
SPIE--the International Society for Optical Engineering,
c1987.
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| coleção: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 794 |
| Assuntos: |
CARM 1 Store
| Área/Cota: |
A3:AB09C3 D01846 |
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| Cópia 1 | Disponível Localização |