Electron beam interactions with solids for microscopy, microanalysis & microlithography : proceedings of the 1st Pfefferkorn Conference, held April 18 to 23, 1982, at the Asilomar Conference Center, Monterey, CA /
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Autor Corporativo: | |
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Outros Autores: | |
Formato: | Anais de Congresso Livro |
Idioma: | English |
Publicado em: |
AMF O'Hare [Chicago], IL :
Scanning Electron Microscopy, Inc.,
c1984.
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Assuntos: |
Descrição Física: | xii, 372 p. : ill. ; 29 cm. |
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Bibliografia: | Includes bibliographies and indexes. |
ISBN: | 0931288304 |