Scanning electron microscopy.
Guardat en:
| Nou títol: | Scanning microscopy |
|---|---|
| Títol anterior: | Scanning Electron Microscope Symposium. Scanning electron microscopy. |
| Autor corporatiu: | |
| Format: | Publicació Periòdica |
| Idioma: | English |
| Publicat: |
AMF O'Hare [Chicago], IL :
Scanning Electron Microscopy, Inc.,
c1978-
|
| Matèries: |
| Publicat: | 1978- Ceased in 1986. |
|---|---|
| Descripció de l’ítem: | "An international review of advances in instrumentation, techniques, theory and physical applications of the scanning electron microscope." |
| Descripció física: | 9 v. : ill. ; 29 cm. |
| Periodicitat de publicació: | Quarterly, 1980-1986. |
| ISSN: | 0586-5581 0891-7035 |