IEEE transactions on device and materials reliability : a publication of the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society.
محفوظ في:
| مؤلفون مشاركون: | , , |
|---|---|
| التنسيق: | دورية |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
New York, NY :
Institute of Electrical and Electronics Engineers,
c2001-
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://ieeexplore.ieee.org/lpdocs/epic03/RecentIssues.htm?punumber=7298 http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=7298 |
الانترنت
http://ieeexplore.ieee.org/lpdocs/epic03/RecentIssues.htm?punumber=7298http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=7298
CARM 1 Store
| رقم الطلب: |
A3:AD16C0 D06987 |
|---|---|
| النسخة 1 | متاح أحجز النسخة |