IEEE transactions on device and materials reliability : a publication of the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society.

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون مشاركون: IEEE Electron Devices Society, IEEE Reliability Society, Institute of Electrical and Electronics Engineers (U.S.)
التنسيق: دورية
اللغة:English
منشور في: New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2001-
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://ieeexplore.ieee.org/lpdocs/epic03/RecentIssues.htm?punumber=7298
http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=7298

الانترنت

http://ieeexplore.ieee.org/lpdocs/epic03/RecentIssues.htm?punumber=7298
http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=7298

CARM 1 Store

تفاصيل المقتنيات من CARM 1 Store
رقم الطلب: A3:AD16C0 D06987
النسخة 1 متاح  أحجز النسخة