Electron microfractography : a symposium presented at the seventy-first annual meeting, American Society for Testing and Materials.

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
Corporate Authors: Symposium on Electron Microfractography (San Francisco), American Society for Testing and Materials. Subcommittee II on Fractography
פורמט: Conference Proceeding ספר
שפה:English
יצא לאור: Philadelphia, : American Society for Testing and Materials [1969]
סדרה:ASTM special technical publication ; 453.
נושאים:

CARM 1 Store

פרטי מלאי ספרים מ CARM 1 Store
סימן המיקום: A2:AM23G0 C07959
עותק 1 זמין  ביצוע הזמנה