Testing and diagnosis of analog circuits and systems /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Liu, Ruey-Wen
Materyal Türü: Kitap
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: New York, N.Y. : Van Nostrand Reinhold, c1991.
Konular:
Diğer Bilgiler
Fiziksel Özellikler:xiv, 284 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliyografya:Includes bibliographical references and index.
ISBN:0442259328