Testing and diagnosis of analog circuits and systems /

Saved in:
Bibliografiske detaljer
Andre forfattere: Liu, Ruey-Wen
Format: Bog
Sprog:English
Udgivet: New York, N.Y. : Van Nostrand Reinhold, c1991.
Fag:
LEADER 01025cam a2200277 a 4500
001 c000224766
003 CARM
005 20061030180736.0
008 900808s1991 nyua b 001 0 eng
010 |a 90045217 
019 1 |a 7549025  |5 LACONCORD2021 
020 |a 0442259328 
035 |a (OCoLC)22305076  |5 LACONCORD2021 
040 |a LC  |b eng  |c LC  |d LC 
050 0 0 |a TK7870  |b .L523 1991 
050 4 |a TK7870  |b .T47 1991 
082 0 4 |a 621.381  |2 20 
245 0 0 |a Testing and diagnosis of analog circuits and systems /  |c edited by Ruey-wen Liu. 
260 |a New York, N.Y. :  |b Van Nostrand Reinhold,  |c c1991. 
300 |a xiv, 284 p. :  |b ill. ;  |c 24 cm. 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
650 0 |a Analog electronic systems  |x Testing. 
700 1 |a Liu, Ruey-Wen. 
852 8 |b CARM  |h A2:AP29A0  |i B06703  |p 0315754  |f BK 
999 f f |i 262cd685-ed79-5513-9667-5a02e2417ec9  |s 557b3dff-5609-550a-aedf-fb51fdeb02a8 
952 f f |p Can circulate  |a CAVAL  |b CAVAL  |c CAVAL  |d CARM 1 Store  |e B06703  |f A2:AP29A0  |h Other scheme  |i book  |m 0315754