Improved characterization and evaluation measurements for HgCdTe detector materials, processes, and devices used on the GOES and TIROS satellites /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả của công ty: National Institute of Standards and Technology (U.S.)
Tác giả khác: Seiler, David G.
Định dạng: Sách
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1994.
Loạt:Semiconductor measurement technology
NIST special publication ; 400-94
Những chủ đề:

CARM 1 Store

Chi tiết quỹ từ CARM 1 Store
Số hiệu: A1:AP30C0 F02083
Sao chép 1 Sẵn có  Đặt Giữ