Optical characterization techniques for high-performance microelectronic device manufacturing III : 16-17 October 1996, Austin, Texas /

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ग्रंथसूची विवरण
निगमित लेखक: Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
अन्य लेखक: Chen, Ray T., Lowell, John, Mathur, Jagdish P.
स्वरूप: पुस्तक
भाषा:English
प्रकाशित: Bellingham, Wash. : SPIE, 1996.
श्रृंखला:Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; v. 2877.
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