Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program, TXYZ20 /

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Albers, John
مؤلف مشترك:	National Institute of Standards and Technology (U.S.)
التنسيق:	كتاب
اللغة:	English
منشور في:	Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1992.
سلاسل:	Semiconductor measurement technology NIST special publication ; 400-89
الموضوعات:	Semiconductors > Thermal properties. Thermal analysis > Computer programs. Fourier analysis > Data processing.

الوصف
وصف المادة:	"June 1992."
وصف مادي:	iii, 29 p. ; 28 cm.
بيبلوغرافيا:	Includes bibliographical references (p. 18)

مواد مشابهة