Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program, TXYZ20 /

Պահպանված է:

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:	Albers, John
Համատեղ հեղինակ:	National Institute of Standards and Technology (U.S.)
Ձևաչափ:	Գիրք
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1992.
Շարք:	Semiconductor measurement technology NIST special publication ; 400-89
Խորագրեր:	Semiconductors > Thermal properties. Thermal analysis > Computer programs. Fourier analysis > Data processing.

Նկարագրություն
Նյութի նկարագրություն:	"June 1992."
Ֆիզիկական նկարագրություն:	iii, 29 p. ; 28 cm.
Մատենագիտություն:	Includes bibliographical references (p. 18)

Նմանատիպ նյութեր