Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program, TXYZ20 /
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Tác giả của công ty: | |
| Định dạng: | Sách |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
Gaithersburg, MD : Washington, DC :
U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O.,
1992.
|
| Loạt: | Semiconductor measurement technology
NIST special publication ; 400-89 |
| Những chủ đề: |
CARM 1 Store
| Số hiệu: |
A3:AE31C0 F06472 |
|---|---|
| Sao chép 1 | Sẵn có Đặt Giữ |