Interferometry VI : techniques and analysis : 12-13 July 1993, San Diego, California /
Guardat en:
| Autor corporatiu: | , |
|---|---|
| Altres autors: | , , |
| Format: | Llibre |
| Idioma: | English |
| Publicat: |
Bellingham, Wash. :
SPIE,
c1993.
|
| Col·lecció: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 2003. |
| Matèries: |
CARM 1 Store
| Signatura: |
A3:AF28C0 F06844 |
|---|---|
| Còpia 1 | Disponible Fer una reserva |