Deep levels in semiconductors /

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Jaros, M.
Format: Book
Language:English
Published: Bristol : Hilger, c1982.
Subjects:
LEADER 00972cam a2200265 a 4500
001 c000299268
003 CARM
005 20090603182853.0
008 820208s1982 enka 001 0 eng d
015 |a B8204790 
019 1 |a 2206115  |z 21961330  |z 44120835  |5 LACONCORD2021 
020 |a 0852745168 :  |c £24.00 : CIP rev 
035 |a (OCoLC)8563064  |5 LACONCORD2021 
082 0 4 |a 537.6  |2 18 
082 0 4 |a 537.6  |2 19 
100 1 |a Jaros, M. 
245 1 0 |a Deep levels in semiconductors /  |c M. Jaros. 
260 |a Bristol :  |b Hilger,  |c c1982. 
300 |a xi, 302 p. :  |b ill ;  |c 24cm. 
500 |a Semiconductors. Defects & impurities (BNB/PRECIS). 
504 |a Bibliography: p282-295. - Includes index. 
650 0 |a Semiconductors  |x Defects. 
852 8 |b CARM  |h A3:AD23G0  |i C11908  |p 0540568  |f BK 
999 f f |i 3be30f5e-7a88-5696-99d7-2d53809fc8b2  |s 3ffa0a97-d757-5557-a170-128e24d510b4 
952 f f |p Can circulate  |a CAVAL  |b CAVAL  |c CAVAL  |d CARM 1 Store  |e C11908  |f A3:AD23G0  |h Other scheme  |i book  |m 0540568