Electron microscopy, 1980 : proceedings of the Seventh European Congress on Electron Microscopy, The Hague, The Netherlands, August 24-29, 1980.

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor corporatiu: European Congress on Electron Microscopy Hague, Netherlands, International Conference on X-ray Optics and Microanalysis
Altres autors: Brederoo, P.
Format: Actes de congresos Llibre
Idioma:English
Publicat: Leiden : Seventh European Congress on Electron Microscopy Foundation, 1980.
Matèries:
Descripció
Descripció de l’ítem:Editors, P. Brederoo ... et al.
Incorporated the Ninth International Conference on X-ray Optics and Microanalysis.
Descripció física:4 v. : ill ; 27 cm.
Bibliografia:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9090001468
9090001476
9090001484
9090001492