Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : [proceedings of NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods, held August 29-September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom] /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Coauteur: NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods Durham, England
Andere auteurs: Bowen, D. Keith (David Keith), 1940-, Tanner, B. K. (Brian Keith)
Formaat: Conferentie akten Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: New York, N.Y. : Plenum Press, c1980.
Reeks:NATO advanced study institutes series. Physics ; v. 63
Onderwerpen:

CARM 1 Store

Exemplaargegevens van CARM 1 Store
Kopie 1 Beschikbaar  Plaats een reservatie