Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices /

Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
organizacja autorów: Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (U.S.), Metallurgical Society (U.S.)
Kolejni autorzy: Glembocki, O. J., Pollak, Fred H., Song, J. J.
Format: Książka
Język:English
Wydane: Bellingham, Wash., USA : SPIE--the International Society for Optical Engineering, c1987.
Seria:Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ; v. 794
Hasła przedmiotowe:
Thin film devices > Congresses.
Thin films > Optical properties > Congresses.

CARM 1 Store

Szczegóły zapisu CARM 1 Store
Sygnatura: A3:AB09C3 D01846
Egzemplarz 1 Dostępne  Zamów

Podobne zapisy