Modern optical characterization techniques for semiconductors and semiconductor devices /
Salvato in:
| Enti autori: | , |
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| Altri autori: | , , |
| Natura: | Libro |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
Bellingham, Wash., USA :
SPIE--the International Society for Optical Engineering,
c1987.
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| Serie: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 794 |
| Soggetti: |
CARM 1 Store
| Collocazione: |
A3:AB09C3 D01846 |
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| Copia 1 | Disponibile Richiedi |