Automatic testing and evaluation of digital integrated circuits /

সংরক্ষণ করুন:

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Healy, James T. (James Thomas), 1940-
বিন্যাস:	গ্রন্থ
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	Reston, Va. : Reston Pub. Co., c1981.
বিষয়গুলি:	Digital integrated circuits > Testing. Automatic test equipment.

হোল্ডিংসের বিবরণ CARM 1 Store
ডাক সংখ্যা:	A2:AG38H0 C08256
প্রতিলিপি 1	লভ্য এই স্থানে হোল্ড করুন

অনুরূপ উপাদানগুলি