Measurement of transistor scattering parameters /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Rogers, George J.
Beste egile batzuk: Sawyer, David E (joint author.), Jesch, Ramon L (joint author.)
Formatua: Liburua
Hizkuntza:English
Argitaratua: [Washington] : U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards : for sale by the Supt. of Docs., U.S. Govt. Print. Off., 1975.
Saila:Semiconductor measurement technology
NBS special publication ; 400-5.
Gaiak:

CARM 1 Store

Aleari buruzko argibideak CARM 1 Store
Sailkapena: A2:AF37H0 F01034
Alea 1 Eskuragarri  Erreserbatu