Measurement of transistor scattering parameters /
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Altres autors: | , |
| Format: | Llibre |
| Idioma: | English |
| Publicat: |
[Washington] :
U.S. Dept. of Commerce, National Bureau of Standards : for sale by the Supt. of Docs., U.S. Govt. Print. Off.,
1975.
|
| Col·lecció: | Semiconductor measurement technology
NBS special publication ; 400-5. |
| Matèries: |
CARM 1 Store
| Signatura: |
A2:AF37H0 F01034 |
|---|---|
| Còpia 1 | Disponible Fer una reserva |