Yield and variability optimization of integrated circuits /

Yield and variability optimization of integrated circuits /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Zhang, J. C., 1963-
Beste egile batzuk: Styblinski, M. A., 1942-
Formatua: Liburua
Hizkuntza:English
Argitaratua: Boston : Kluwer Academic Publishers, c1995.
Gaiak:
Integrated circuits > Design and construction > Statistical methods.
Integrated circuits > Reliability.
Integrated circuits > Defects.

CARM 1 Store

Aleari buruzko argibideak CARM 1 Store
Sailkapena: A2:AN27G0 C08386
Alea 1 Eskuragarri  Erreserbatu

Antzeko izenburuak