Yield and variability optimization of integrated circuits /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Zhang, J. C., 1963-
Další autoři: Styblinski, M. A., 1942-
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydáno: Boston : Kluwer Academic Publishers, c1995.
Témata:

CARM 1 Store

Informace o exemplářích z: CARM 1 Store
Signatura: A2:AN27G0 C08386
Jednotka 1 Dostupné  Požadavek