Zhang, J. C., & Styblinski, M. A. (1995). Yield and variability optimization of integrated circuits. Kluwer Academic Publishers.
Citace podle Chicago (17th ed.)Zhang, J. C., a M. A. Styblinski. Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits. Boston: Kluwer Academic Publishers, 1995.
Citace podle MLA (8th ed.)Zhang, J. C., a M. A. Styblinski. Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits. Kluwer Academic Publishers, 1995.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..