Zhang, J. C., & Styblinski, M. A. (1995). Yield and variability optimization of integrated circuits. Kluwer Academic Publishers.
Chicago-viite (17. p.)Zhang, J. C., ja M. A. Styblinski. Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits. Boston: Kluwer Academic Publishers, 1995.
MLA-viite (8. p.)Zhang, J. C., ja M. A. Styblinski. Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits. Kluwer Academic Publishers, 1995.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.