Properties of amorphous silicon.
Shranjeno v:
Korporativna značnica: | |
---|---|
Format: | Knjiga |
Jezik: | English |
Izdano: |
London ; New York :
INSPEC, the Institution of Electrical Engineers,
c1989.
|
Izdaja: | 2nd ed. |
Serija: | EMIS datareviews series ;
no. 1 |
Teme: |
CARM 1 Store
Signatura: |
A1:AO02F0 F02127 |
---|---|
Kopija 1 | Prosto Rezerviraj |