Properties of amorphous silicon.

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Detalhes bibliográficos
Autor Corporativo: INSPEC (Information service)
Formato: Livro
Idioma:English
Publicado em: London ; New York : INSPEC, the Institution of Electrical Engineers, c1989.
Edição:2nd ed.
coleção:EMIS datareviews series ; no. 1
Assuntos:

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Área/Cota: A1:AO02F0 F02127
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