Properties of amorphous silicon.

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Korporativna značnica: INSPEC (Information service)
Format: Knjiga
Jezik:English
Izdano: London ; New York : INSPEC, the Institution of Electrical Engineers, c1989.
Izdaja:2nd ed.
Serija:EMIS datareviews series ; no. 1
Teme:

CARM 1 Store

Podrobnosti zaloge CARM 1 Store
Signatura: A1:AO02F0 F02127
Kopija 1 Prosto  Rezerviraj