Properties of amorphous silicon.

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר תאגידי: INSPEC (Information service)
פורמט: ספר
שפה:English
יצא לאור: London ; New York : INSPEC, the Institution of Electrical Engineers, c1989.
מהדורה:2nd ed.
סדרה:EMIS datareviews series ; no. 1
נושאים:
תיאור
תאור פריט:Previous ed. : 1985.
תיאור פיזי:xxii, 656 p. ; 29 cm.
ביבליוגרפיה:Includes bibliographical references and index.
ISBN:0852964803