Properties of amorphous silicon.

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Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: INSPEC (Information service)
Formato: Libro
Lenguaje:English
Publicado: London ; New York : INSPEC, the Institution of Electrical Engineers, c1989.
Edición:2nd ed.
Colección:EMIS datareviews series ; no. 1
Materias:
Descripción
Notas:Previous ed. : 1985.
Descripción Física:xxii, 656 p. ; 29 cm.
Bibliografía:Includes bibliographical references and index.
ISBN:0852964803