Development of a testing methodology to predict optical disk life expectancy values /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Podio, Fernando L.
Körperschaft: National Institute of Standards and Technology (U.S.)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Gaithersburg, Md. : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1991.
Schriftenreihe:NIST special publication ; 500-200.
NIST special publication. Computer systems technology.
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Signatur: A3:AE21C0 F06303
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