HOTPAC, programs for thermal analysis including version 3.0 of the TXYZ program, TXYZ 30, and the thermal multilayer program, TML /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Albers, John
מחבר תאגידי:	National Institute of Standards and Technology (U.S.)
פורמט:	ספר
שפה:	English
יצא לאור:	Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1995.
סדרה:	NIST special publication ; 400-96. Semiconductor measurement technology.
נושאים:	Semiconductors > Thermal properties. Thermal analysis > Computer programs. Fourier analysis > Data processing.

פרטי מלאי ספרים מ CARM 1 Store
סימן המיקום:	A3:AE21D0 F06324
עותק 1	זמין ביצוע הזמנה

פריטים דומים