HOTPAC, programs for thermal analysis including version 3.0 of the TXYZ program, TXYZ 30, and the thermal multilayer program, TML /

সংরক্ষণ করুন:

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Albers, John
সংস্থা লেখক:	National Institute of Standards and Technology (U.S.)
বিন্যাস:	গ্রন্থ
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1995.
মালা:	NIST special publication ; 400-96. Semiconductor measurement technology.
বিষয়গুলি:	Semiconductors > Thermal properties. Thermal analysis > Computer programs. Fourier analysis > Data processing.

হোল্ডিংসের বিবরণ CARM 1 Store
ডাক সংখ্যা:	A3:AE21D0 F06324
প্রতিলিপি 1	লভ্য এই স্থানে হোল্ড করুন

অনুরূপ উপাদানগুলি