HOTPAC, programs for thermal analysis including version 3.0 of the TXYZ program, TXYZ 30, and the thermal multilayer program, TML /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Albers, John
Tác giả của công ty: National Institute of Standards and Technology (U.S.)
Định dạng: Sách
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1995.
Loạt:NIST special publication ; 400-96.
Semiconductor measurement technology.
Những chủ đề:

CARM 1 Store

Chi tiết quỹ từ CARM 1 Store
Số hiệu: A3:AE21D0 F06324
Sao chép 1 Sẵn có  Đặt Giữ