Proceedings /

Proceedings /

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Títol anterior:International Test Conference. Digest of papers
Autor corporatiu: International Test Conference, IEEE Computer Society. Test Technology Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
Format: Actes de congresos Revista
Idioma:English
Publicat: Silver Spring, Md. : IEEE Computer Society Press, 1983-.
Matèries:
Computer storage devices > Congresses.
Integrated circuits > Testing > Congresses.
Semiconductors > Testing > Congresses.
Descripció
Publicat:1983-
Descripció de l’ítem:Each conference also has distinctive title.
Descripció física:v. : ill. ; 28 cm.
ISSN:1089-3539
0743-1686

Ítems similars