Proceedings /

Na minha lista:

Detalhes bibliográficos
Título anterior:	International Test Conference. Digest of papers
Autores corporativos:	International Test Conference, IEEE Computer Society. Test Technology Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
Formato:	Anais de Congresso Periódico
Idioma:	English
Publicado em:	Silver Spring, Md. : IEEE Computer Society Press, 1983-.
Assuntos:	Computer storage devices > Congresses. Integrated circuits > Testing > Congresses. Semiconductors > Testing > Congresses.

Descrição
Publicado em:	1983-
Descrição do item:	Each conference also has distinctive title.
Descrição Física:	v. : ill. ; 28 cm.
ISSN:	1089-3539 0743-1686

Registros relacionados