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Detalhes bibliográficos
Título anterior:	International Test Conference. Digest of papers
Autores corporativos:	International Test Conference, IEEE Computer Society. Test Technology Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
Formato:	Anais de Congresso Periódico
Idioma:	English
Publicado em:	Silver Spring, Md. : IEEE Computer Society Press, 1983-.
Assuntos:	Computer storage devices > Congresses. Integrated circuits > Testing > Congresses. Semiconductors > Testing > Congresses.

Detalhes do Exemplar CARM 1 Store
Área/Cota:	A3:AE22D0 F06353
Cópia 1	Disponível Localização

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