Proceedings /

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Попередня назва:International Test Conference. Digest of papers
Співавтори: International Test Conference, IEEE Computer Society. Test Technology Committee, Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
Формат: Матеріали конференцій Журнал
Мова:English
Опубліковано: Silver Spring, Md. : IEEE Computer Society Press, 1983-.
Предмети:

CARM 1 Store

Детальна інфо про примірники із CARM 1 Store
Шифр: A3:AE22D0 F06353
Примірник 1 Доступно  Розмістити замовлення