Test structure implementation document : DC parametric test structures and test methods for monolithic microwave integrated circuits (MMICs) /
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | |
---|---|
Համատեղ հեղինակներ: | , |
Ձևաչափ: | Գիրք |
Լեզու: | English |
Հրապարակվել է: |
Gaithersburg, MD : Washington, DC :
U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O.,
1995.
|
Շարք: | Semiconductor measurement technology
NIST special publication. |
Խորագրեր: |
Նյութի նկարագրություն: | "September 1995." |
---|---|
Ֆիզիկական նկարագրություն: | iv, 88 p. : ill. ; 28 cm. |
Մատենագիտություն: | Includes bibliographical references (p. 14) |