Test structure implementation document : DC parametric test structures and test methods for monolithic microwave integrated circuits (MMICs) /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Schuster, C. E.
Համատեղ հեղինակներ: United States. Defense Advanced Research Projects Agency, U.S. Air Force Wright Laboratory
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1995.
Շարք:Semiconductor measurement technology
NIST special publication.
Խորագրեր:
Նկարագրություն
Նյութի նկարագրություն:"September 1995."
Ֆիզիկական նկարագրություն:iv, 88 p. : ill. ; 28 cm.
Մատենագիտություն:Includes bibliographical references (p. 14)