Test structure implementation document : DC parametric test structures and test methods for monolithic microwave integrated circuits (MMICs) /
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Nhiều tác giả của công ty: | , |
| Định dạng: | Sách |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
Gaithersburg, MD : Washington, DC :
U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O.,
1995.
|
| Loạt: | Semiconductor measurement technology
NIST special publication. |
| Những chủ đề: |
CARM 1 Store
| Số hiệu: |
A3:AE31E0 F06481 |
|---|---|
| Sao chép 1 | Sẵn có Đặt Giữ |