Test structure implementation document : DC parametric test structures and test methods for monolithic microwave integrated circuits (MMICs) /

Test structure implementation document : DC parametric test structures and test methods for monolithic microwave integrated circuits (MMICs) /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Schuster, C. E.
مؤلفون مشاركون: United States. Defense Advanced Research Projects Agency, U.S. Air Force Wright Laboratory
التنسيق: كتاب
اللغة:English
منشور في: Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1995.
سلاسل:Semiconductor measurement technology
NIST special publication.
الموضوعات:
Microwave integrated circuits > Design > Data processing.
Gallium arsenide semiconductors > Design > Data processing.
Computer-aided design.

CARM 1 Store

تفاصيل المقتنيات من CARM 1 Store
رقم الطلب: A3:AE31E0 F06481
النسخة 1 متاح  أحجز النسخة

مواد مشابهة