Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program, TXYZ20 /

সংরক্ষণ করুন:

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Albers, John
সংস্থা লেখক:	National Institute of Standards and Technology (U.S.)
বিন্যাস:	গ্রন্থ
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	Gaithersburg, MD : Washington, DC : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology ; For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1992.
মালা:	Semiconductor measurement technology NIST special publication ; 400-89
বিষয়গুলি:	Semiconductors > Thermal properties. Thermal analysis > Computer programs. Fourier analysis > Data processing.

বিবরন
উপাদানের বিবরণ:	"June 1992."
দৈহিক বর্ননা:	iii, 29 p. ; 28 cm.
গ্রন্থ-পঞ্জী:	Includes bibliographical references (p. 18)

অনুরূপ উপাদানগুলি