Semiconductor measurement technology : survey of optical characterization methods for materials, processing, and manufacturing in the semiconductor industry /

Պահպանված է:

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:	Bullis, W. Murray, 1930-
Այլ հեղինակներ:	Seiler, David G., Perkowitz, S.
Ձևաչափ:	Գիրք
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1995.
Շարք:	NIST special publication ; 400-98
Խորագրեր:	Semiconductors > Testing > Optical methods. Semiconductors > Characterization.

Պահումների մանրամասները CARM 1 Store
Դասիչ:	A3:AE31C0 F06472
Պատճեն 1	Հասանելի է Տեղադրեք պահում

Նմանատիպ նյութեր