Semiconductor measurement technology : survey of optical characterization methods for materials, processing, and manufacturing in the semiconductor industry /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Bullis, W. Murray, 1930-
מחברים אחרים:	Seiler, David G., Perkowitz, S.
פורמט:	ספר
שפה:	English
יצא לאור:	Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1995.
סדרה:	NIST special publication ; 400-98
נושאים:	Semiconductors > Testing > Optical methods. Semiconductors > Characterization.

פרטי מלאי ספרים מ CARM 1 Store
סימן המיקום:	A3:AE31C0 F06472
עותק 1	זמין ביצוע הזמנה

פריטים דומים