Interferometry--surface characterization and testing : 24 July 1992, San Diego, California /
Guardat en:
| Autor corporatiu: | |
|---|---|
| Altres autors: | , |
| Format: | Llibre |
| Idioma: | English |
| Publicat: |
Bellingham, Wash. :
SPIE,
c1992.
|
| Col·lecció: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 1776. |
| Matèries: |
CARM 1 Store
| Signatura: |
A3:AE29C0 F06463 |
|---|---|
| Còpia 1 | Disponible Fer una reserva |