Surface characterization and testing II : 10-11 August 1989, San Diego, California /
محفوظ في:
| مؤلف مشترك: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , |
| التنسيق: | كتاب |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Bellingham, Wash., USA :
SPIE--the International Society for Optical Engineering,
c1989.
|
| سلاسل: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 1164. |
| الموضوعات: |
CARM 1 Store
| رقم الطلب: |
A3:AE30C0 F06465 |
|---|---|
| النسخة 1 | متاح أحجز النسخة |