Surface characterization and testing II : 10-11 August 1989, San Diego, California /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | , |
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Bellingham, Wash., USA :
SPIE--the International Society for Optical Engineering,
c1989.
|
| Σειρά: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 1164. |
| Θέματα: |
CARM 1 Store
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
A3:AE30C0 F06465 |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη Κάντε κράτηση |