Surface characterization and testing II : 10-11 August 1989, San Diego, California /
Uloženo v:
| Korporativní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | , |
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Bellingham, Wash., USA :
SPIE--the International Society for Optical Engineering,
c1989.
|
| Edice: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 1164. |
| Témata: |
CARM 1 Store
| Signatura: |
A3:AE30C0 F06465 |
|---|---|
| Jednotka 1 | Dostupné Požadavek |