Interferometry VII : techniques and analysis : 11-12 July 1995, San Diego, California /
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| Autores corporativos: | , |
|---|---|
| Outros Autores: | , , |
| Formato: | Livro |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
Bellingham, Wash. :
SPIE,
c1995.
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| coleção: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 2544. |
| Assuntos: |
| Descrição do item: | "Consisted of two conferences dedicated to techniques and analysis, and applications."--Introd. "Cooperating organization, SEM--Society for Experimental Mechanics." |
|---|---|
| Descrição Física: | x, 398 p. : ill. ; 28 cm. |
| Bibliografia: | Includes bibliographic references and index. |
| ISBN: | 0819419036 |