Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis /

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Detalhes bibliográficos
Autores corporativos: Electron Microscope Society of America, Microbeam Analysis Society
Outros Autores: Siegel, Benjamin M., 1916-, Beaman, Donald Robert
Formato: Livro
Idioma:English
Publicado em: New York : Wiley, [1975].
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Área/Cota: A1:AR25F0 C10887
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