Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون مشاركون: Electron Microscope Society of America, Microbeam Analysis Society
مؤلفون آخرون: Siegel, Benjamin M., 1916-, Beaman, Donald Robert
التنسيق: كتاب
اللغة:English
منشور في: New York : Wiley, [1975].
الموضوعات:

CARM 1 Store

تفاصيل المقتنيات من CARM 1 Store
رقم الطلب: A1:AR25F0 C10887
النسخة 1 متاح  أحجز النسخة