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Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis /
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书目详细资料
企业作者:
Electron Microscope Society of America
,
Microbeam Analysis Society
其他作者:
Siegel, Benjamin M., 1916-
,
Beaman, Donald Robert
格式:
图书
语言:
English
出版:
New York :
Wiley,
[1975].
主题:
Electron microscopes.
Microprobe analysis.
Microchemistry.
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索引号:
A1:AR25F0 C10887
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