Reliability stress and failure rate data for electronic equipment.
Сохранить в:
| Соавтор: | |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Washington, D.C. :
Department of Defense,
1965.
|
| Серии: | Military handbook (United States. Dept. of Defense)
|
| Предметы: |
CARM 1 Store
| Копировать 1 | Доступно Поместить задолженность |
|---|